In situcharacterization of NiTi based shape memory thin films by optical measurement
| Autor(en): |
M. J. Wu
W. M. Huang F. Chollet |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, April 2006, n. 2, v. 15 |
| Seite(n): | N29-N35 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/15/2/n01 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10223046 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018
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